粉末接触角测量仪是测量液体对固体材料接触角的仪器，主要用于表征液体对固体材料表面的润湿性能，通过光学成像获取液滴的图像，利用计算机软件，通过数学模型拟合出液滴图像的轮廓并得到接触角或表面张力，并进行表面能计算和润湿性分析。

半导体膜厚测试仪是一款精准又好用的薄膜厚度测量设备。它能测低至20纳米的超薄薄膜，测量误差小于1纳米，最快每秒可测100次，重复测量精度高达0.05纳米。具有强抗干扰性，高灵敏度元器件搭配抗干扰光学系统+多参数反演算法，复杂环境下测量稳定，灵活易适配，支持自定义膜结构测量，设备小巧易安装，配套软件及二次开发包，适配实验室/产线多场景。

反射式光学膜厚仪具有强抗干扰性，高灵敏度元器件搭配抗干扰光学系统+多参数反演算法，复杂环境下测量稳定，灵活易适配，支持自定义膜结构测量，设备小巧易安装，配套软件及二次开发包，适配实验室/产线多场景。

非接触式膜厚测量仪精准测量，支持20nm超薄膜厚检测，准确度±1nm、重复精度0.05nm，满足精密检测需求，高速采样，最高采样速度100Hz，适配产线快速检测，提升测量效率，宽光谱覆盖，采用氘卤组合光源，光谱覆盖紫外至近红外，可解析单层/多层膜厚。

光学膜厚仪广泛应用于半导体与微电子制造、显示面板、光学器件制造、生物医学、汽车及新材料与新能源研发等领域，能满足从晶圆镀膜、显示面板薄膜到光学元件镀膜、医用植入物涂层、汽车玻璃膜层及新能源薄膜的高精度厚度检测需求，助力各行业提升产品质量与研发效率。

反射膜厚测量仪广泛应用于半导体与微电子制造、显示面板、光学器件制造、生物医学、汽车及新材料与新能源研发等领域，能满足从晶圆镀膜、显示面板薄膜到光学元件镀膜、医用植入物涂层、汽车玻璃膜层及新能源薄膜的高精度厚度检测需求，助力各行业提升产品质量与研发效率。

反射膜厚仪是一款精准又好用的薄膜厚度测量设备。它能测低至20纳米的超薄薄膜，测量误差小于1纳米，最快每秒可测100次，重复测量精度高达0.05纳米。它采用双光源组合，覆盖紫外到红外全光谱，抗干扰能力强，在振动或复杂环境下也能稳定工作。

市政管线地下空间探深仪采用全数字化高精度采样及多重滤波抗干扰技术，具备经典定位、导线巡航、信号畸变测量等多种模式，支持 11 种主动、3 种被动探测频率，发射机支持直连、耦合、感应三种信号输出方式，数字功率可调且自带自动匹配与保护功能。广泛适用于市政规划、供电运维、管线管理维护等场景，是管线检测与维护的专业仪器。

地埋电缆走向探测仪采用全数字化高精度采样及多重滤波抗干扰技术，具备经典定位、导线巡航、信号畸变测量等多种模式，支持 11 种主动、3 种被动探测频率，发射机支持直连、耦合、感应三种信号输出方式，数字功率可调且自带自动匹配与保护功能。

电缆故障定位仪是一款集路径探测、电缆识别、故障查找于一体的高性能非开挖地下管线检测设备，由发射机、发射电流钳、接收机、柔性电流钳、连接测试线及选配 A 字架组成，可在非开挖条件下完成金属管线、地下电缆的路径探测、普查与深度测量。全数字化高精度采样处理，稳定可靠，超高灵敏度，接收通频带极窄，抗干扰能力强，能充分抑制邻近运行电缆及管道的工频和谐波干扰。